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德國(guó)菲希爾FISCHER
英國(guó)泰勒霍普森 Taylor Hobson
美國(guó)API
杭州思看
美國(guó)哈希代理
意大利哈納代理
德國(guó)馬爾Mahr
德國(guó)艾達(dá)米克-霍梅爾Hommel
日本三豐 Mitutoyo
日本KETT
日本柯尼卡美能達(dá)KONICA MINOLTA
德國(guó)Qnix尼克斯
德國(guó)森薩帕特Sensopart
德國(guó)BYK
德國(guó)EPK
美國(guó)狄夫斯高 Defelsko
美國(guó)Mark-10測(cè)力計(jì)
美國(guó)Fluke 福祿克
美國(guó)雷泰 Raytek
美國(guó)SDI
美國(guó)FLIR 前視紅外熱像系統(tǒng)
美國(guó)Fluke福祿克
美國(guó)GE無(wú)損檢測(cè)
上海尚材 SCTMC
香港嘉儀CanNeed
宇舟 金相機(jī)械設(shè)備
北京時(shí)代 TIME
英國(guó)牛津Oxford
英國(guó)易高Elcometer
英國(guó)Renishaw雷尼紹
瑞士博勢(shì) Proceq
表面處理層無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)
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多層鎳測(cè)厚儀-菲希爾Couloscope CMS2 多層鎳測(cè)厚儀-菲希爾Couloscope CMS2 型儀器可以快速、準(zhǔn)確地測(cè)量任何基材上幾乎所有金屬鍍層的厚度，甚至是多鍍層的厚度。儀器采用了菜單式界面、操作簡(jiǎn)便，是對(duì)電鍍產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)控和來(lái)料檢驗(yàn)的理想選擇。CMS2 STEP 型儀器用于對(duì)鍍層厚度和電位差進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化STEP測(cè)試。 例如：對(duì)多層鎳產(chǎn)品的質(zhì)量控制。
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COULOSCOPECMS2庫(kù)倫法測(cè)厚儀現(xiàn)貨嘗鮮價(jià)CMS2系列儀器通過(guò)電解去鍍的方法測(cè)量鍍層的厚度。庫(kù)侖法也可用于準(zhǔn)確地確定任何類型基材上的多層涂層的厚度。CMS2 STEP版本允許對(duì)單個(gè)鍍層進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)的STEP測(cè)試，以檢測(cè)電位差（例如，多層鎳鍍層的質(zhì)量控制）。
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Couloscope CMS2 庫(kù)侖法測(cè)厚儀 篤摯代理 可以測(cè)量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度，包括多鍍層結(jié)構(gòu); 它的工作原理是根據(jù)陽(yáng)極溶解的庫(kù)侖法（DIN EN ISO 2177）。 簡(jiǎn)單的操作和菜單化的操作指導(dǎo)使 CMS2 成為電鍍行業(yè)生產(chǎn)監(jiān)控和質(zhì)量檢驗(yàn)理想的解決方法。設(shè)備為不同的鍍層結(jié)構(gòu)配備了近 100 個(gè)預(yù)留的應(yīng)用程式（例如，鐵上鍍鋅，黃銅上鍍鎳）, 以及各種電解速度。
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Couloscope CMS2 STEP 測(cè)厚儀 很多常見的單、雙鍍層例如鐵鍍鋅或者銅鍍鎳鍍錫都可 以用 CMS2 簡(jiǎn)單快速地測(cè)量。這個(gè)方法為任何金屬鍍層 提供了的測(cè)量。在厚度范圍 0.05 - 50 μm 內(nèi)， 很多 材料不需要預(yù)設(shè)定；基材組成和幾何形狀對(duì)于測(cè)量都 是無(wú)關(guān)緊要的。
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測(cè)鍍銀厚度儀-Fischer Couloscope CMS2 庫(kù)侖法是一種簡(jiǎn)單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。 這個(gè)方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量，現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。 CMS2可以測(cè)量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度，包括多鍍層結(jié)構(gòu);它的工作原理是根據(jù)陽(yáng)極溶解的庫(kù)侖法。
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多功能電解質(zhì)測(cè)厚儀COULOSCOPE CMS2 作為測(cè)量鍍層厚度*簡(jiǎn)單的方法之-一，庫(kù)侖法可以用于各種鍍層組合。尤其對(duì)于多鍍層結(jié)構(gòu)，當(dāng) 允許破壞性測(cè)量時(shí)，它提供了一個(gè)比X射線更經(jīng)濟(jì)的替代方法。強(qiáng)大并且用戶友好的COULOSCOPE CMS2適用于電鍍行業(yè)的生產(chǎn)監(jiān)控和成品的質(zhì)量檢驗(yàn)
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電位測(cè)厚COULOSCOPE CMS2 STEP CMS2 STEP 的特征是 STEP 測(cè)試功能（同時(shí)測(cè)定厚度和電位差）。 在多層鎳的質(zhì)量監(jiān)控中用于對(duì)鍍層厚度和電位差的標(biāo)準(zhǔn)化 STEP 測(cè)試 （根據(jù) ASTM B764-94和 DIN 50022）。
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Couloscope CMS2 鍍鎳厚度檢測(cè)設(shè)備 是根據(jù)庫(kù)侖法測(cè)量鍍層厚度和多層鎳電位差的鍍鎳厚度檢測(cè)設(shè)備，包括型號(hào)Couloscope CMS2和可以測(cè)電位差的CMS2 step，多用于整車廠和檢測(cè)機(jī)構(gòu)。
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德國(guó)品牌電解（庫(kù)侖）測(cè)厚儀Couloscope cms2 篤摯儀器提供全套的德國(guó)Fischer 庫(kù)侖測(cè)厚儀極配件備件，操作指導(dǎo)，技術(shù)服務(wù)等，一個(gè)測(cè)量系統(tǒng)包括COULOSCOPE®CMS2或CMS2STEP和一個(gè)有測(cè)量槽的支架（例如：STEP測(cè)量槽） 。各種測(cè)量臺(tái)設(shè)計(jì)適合不同的應(yīng)用。
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Couloscope CMS2 菲希爾臺(tái)式測(cè)厚儀 庫(kù)倫法測(cè)厚儀是一種高精密測(cè)厚儀，它的功能非常全面
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菲希爾couloscope CMS2庫(kù)倫測(cè)厚儀 這是一款臺(tái)式儀器，功能強(qiáng)大且測(cè)量的準(zhǔn)確率高。
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菲希爾庫(kù)倫法測(cè)厚儀有損測(cè)量多種涂層 庫(kù)倫法是一種簡(jiǎn)單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。這種方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量。
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電鍍銀測(cè)厚儀Couloscope CMS2 庫(kù)侖儀 COULOSCOPE CMS2 庫(kù)侖法測(cè)厚儀的儀器通過(guò)電解去除層來(lái)測(cè)量涂層厚度。 特別地，庫(kù)侖法可以用于地確定任何種類的基底上的多層。
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微電腦多功能電解測(cè)厚儀配置說(shuō)明 該儀器理想的適用于測(cè)量幾乎所有的金屬基材或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度，包括多鍍層。
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汽車內(nèi)外飾件鍍層測(cè)厚儀（電解破壞式） 作為測(cè)量鍍層厚度較簡(jiǎn)單的方法之一，庫(kù)侖法可以用于各種鍍層組合。 尤其對(duì)于多鍍層結(jié)構(gòu)， 當(dāng)允許破壞性測(cè)量時(shí)，它提供了一個(gè)比 X 射線更經(jīng)濟(jì)的替代方法。
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微電腦多功能電解測(cè)厚儀Couloscope CMS2 德國(guó)FISCHER菲希爾COULOSCOPE CMS2庫(kù)倫法測(cè)厚儀-----根據(jù)庫(kù)侖法測(cè)量鍍層厚度和多層鎳電位差。庫(kù)侖法是一種簡(jiǎn)單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。
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Couloscope CMS2菲希爾測(cè)厚儀德國(guó)進(jìn)口 強(qiáng)大并且用戶友好的COULOSCOPE CMS2適用于電鍍行業(yè)的生產(chǎn)監(jiān)控和成品的質(zhì)量檢驗(yàn)。
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Couloscope CMS2庫(kù)倫法測(cè)厚儀 這個(gè)系列儀器根據(jù) DIN EN ISO 2177 標(biāo)準(zhǔn)的庫(kù)侖法。
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庫(kù)倫鍍鉻層測(cè)厚儀Couloscope CMS2 德國(guó)菲希爾庫(kù)侖測(cè)厚儀，Couloscope CMS2，適用于電鍍行業(yè)的的電解測(cè)厚儀，上海篤摯儀器專業(yè)代理，提供演示試測(cè)等，歡迎咨詢！
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COULOSCOPE CMS2 STEP汽車行業(yè)庫(kù)侖電解測(cè)厚儀（可測(cè)電位差） 德國(guó)菲希爾COULOSCOPE CMS2 STEP測(cè)厚儀（可測(cè)電位差）-----在多層鎳的質(zhì)量監(jiān)控中用于對(duì)鍍層厚度和電位差的標(biāo)準(zhǔn)化 STEP 測(cè)試。CMS2 STEP 的特征是 STEP 測(cè)試功能（同時(shí)測(cè)定厚度和電位差）。
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菲希爾測(cè)厚儀