電鍍工業(yè)庫(kù)倫測(cè)厚儀(X射線更經(jīng)濟(jì)) 如果非破壞性的方法無法使用時(shí),可選擇Couloscope Step CMS2測(cè)量金屬或非金屬基材上的幾乎任何金屬涂層的厚度,特別是多個(gè)涂層的厚度。庫(kù)侖法可用于地確定任何類型的基底上的多層。
共 1 條記錄,當(dāng)前 1 / 1 頁 首頁 上一頁 下一頁 末頁 跳轉(zhuǎn)到第頁
17321369640