多功能電解質(zhì)測厚儀COULOSCOPE CMS2 作為測量鍍層厚度*簡單的方法之-一,庫侖法可以用于各種鍍層組合。尤其對于多鍍層結(jié)構(gòu),當(dāng) 允許破壞性測量時,它提供了一個比X射線更經(jīng)濟(jì)的替代方法。強(qiáng)大并且用戶友好的COULOSCOPE CMS2適用于電鍍行業(yè)的生產(chǎn)監(jiān)控和成品的質(zhì)量檢驗(yàn)
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