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德國菲希爾FISCHER
英國泰勒霍普森 Taylor Hobson
美國API
杭州思看
美國哈希代理
意大利哈納代理
德國馬爾Mahr
德國艾達(dá)米克-霍梅爾Hommel
日本三豐 Mitutoyo
日本KETT
日本柯尼卡美能達(dá)KONICA MINOLTA
德國Qnix尼克斯
德國森薩帕特Sensopart
德國BYK
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美國狄夫斯高 Defelsko
美國Mark-10測(cè)力計(jì)
美國Fluke 福祿克
美國雷泰 Raytek
美國SDI
美國FLIR 前視紅外熱像系統(tǒng)
美國Fluke福祿克
美國GE無損檢測(cè)
上海尚材 SCTMC
香港嘉儀CanNeed
宇舟 金相機(jī)械設(shè)備
北京時(shí)代 TIME
英國牛津Oxford
英國易高Elcometer
英國Renishaw雷尼紹
瑞士博勢(shì) Proceq
表面處理層無損檢測(cè)系統(tǒng)
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微電腦多功能電解測(cè)厚儀 CMS2 /CMS2 STEP 一個(gè)測(cè)量系統(tǒng)包括COULOSCOPE®CMS2或CMS2STEP和一個(gè)有測(cè)量槽的支架（例如：STEP測(cè)量槽） 。各種測(cè)量臺(tái)設(shè)計(jì)適合不同的應(yīng)用。 CMS2可以測(cè)量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度，包括多鍍層結(jié)構(gòu); 在多層鎳的量監(jiān)控中用于對(duì)鍍層厚度和電位差的標(biāo)準(zhǔn)化STEP測(cè)試。
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多功能電解質(zhì)測(cè)厚儀COULOSCOPE CMS2 作為測(cè)量鍍層厚度*簡單的方法之-一，庫侖法可以用于各種鍍層組合。尤其對(duì)于多鍍層結(jié)構(gòu)，當(dāng) 允許破壞性測(cè)量時(shí)，它提供了一個(gè)比X射線更經(jīng)濟(jì)的替代方法。強(qiáng)大并且用戶友好的COULOSCOPE CMS2適用于電鍍行業(yè)的生產(chǎn)監(jiān)控和成品的質(zhì)量檢驗(yàn)
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cms2-step微電腦多功能電解測(cè)厚儀 庫侖法是一種簡單易行的電化學(xué)分析方法，可用于確定金屬涂層的厚度。 盡管該方法主要用于檢查電鍍涂層的質(zhì)量，但它也適用于檢測(cè)印刷電路板上剩余純錫的厚度。
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德國品牌電解（庫侖）測(cè)厚儀Couloscope cms2 篤摯儀器提供全套的德國Fischer 庫侖測(cè)厚儀極配件備件，操作指導(dǎo)，技術(shù)服務(wù)等，一個(gè)測(cè)量系統(tǒng)包括COULOSCOPE®CMS2或CMS2STEP和一個(gè)有測(cè)量槽的支架（例如：STEP測(cè)量槽） 。各種測(cè)量臺(tái)設(shè)計(jì)適合不同的應(yīng)用。
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庫侖電解式測(cè)厚儀GalvanoTest 2000 超過70種涂層/基體組合（標(biāo)準(zhǔn)版），在平坦和彎曲表面上的涂層在小型零件和電線上的涂層10種預(yù)設(shè)類型的金屬：Cr，Ni，Cu，黃銅，Zn，Ag，Sn，Pb，Cd，Au 8 特殊應(yīng)用的金屬涂層，測(cè)量范圍：0.05…75μm.
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電解式測(cè)厚儀德國菲希爾/epk 庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。 這個(gè)方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量，現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。使用 COULOSCOPE CMS2 和支架 V18 測(cè)量印刷線路板上剩余純錫的厚度
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cms2 step 電解多層鎳測(cè)厚儀可測(cè)電位差型 德國菲希爾 CMS2 STEP 庫侖測(cè)厚儀采用庫侖方法的鍍層測(cè)量儀，有中文操作系統(tǒng)，并且可以測(cè)量多層鎳厚度及電位差。大LCD 顯示器；帶鍵盤；預(yù)先定義大約100 種常用金屬鍍層；50 條存記錄用于特定應(yīng)用的參數(shù)和3000 個(gè)測(cè)量值。該價(jià)格包括電源電纜，塑料灰塵罩及操作手冊(cè)。
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微電腦多功能電解測(cè)厚儀Couloscope CMS2 德國FISCHER菲希爾COULOSCOPE CMS2庫倫法測(cè)厚儀-----根據(jù)庫侖法測(cè)量鍍層厚度和多層鎳電位差。庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。
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費(fèi)希爾多功能電解測(cè)厚儀基本款 金屬或非金屬基材上的金屬鍍層，通過在控制電流條件下電解腐蝕--------實(shí)際上就是電鍍的反過程。
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COULOSCOPE CMS2 STEP汽車行業(yè)庫侖電解測(cè)厚儀（可測(cè)電位差） 德國菲希爾COULOSCOPE CMS2 STEP測(cè)厚儀（可測(cè)電位差）-----在多層鎳的質(zhì)量監(jiān)控中用于對(duì)鍍層厚度和電位差的標(biāo)準(zhǔn)化 STEP 測(cè)試。CMS2 STEP 的特征是 STEP 測(cè)試功能（同時(shí)測(cè)定厚度和電位差）。
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微電腦多功能電解測(cè)厚儀STEP 庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。 這個(gè)方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量，現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。
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上海庫侖電解測(cè)厚儀Couloscope CMS2 STEP COULOSCOPE® CMS2 STEP庫侖法測(cè)量鍍層厚度和多層鎳電位差,使用COULOSCOPE CMS2和支架V18測(cè)量印刷線路板上剩余純錫的厚度，庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。
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庫侖電解測(cè)厚儀怎么選 庫侖鍍層測(cè)厚儀可以用于測(cè)量幾乎所有基體上的電鍍層厚度。基體包括鋼鐵、有色金屬以及絕緣材料。例如鐵上鑷、鐵上鋅、銅上銀、環(huán)氧樹脂上的銅等。測(cè)量時(shí)只需去除幾乎看不到的一小塊面積的鍍層金屬
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couloscope cms德國菲希爾電解測(cè)厚儀 Fischer菲希爾Couloscope CMS2測(cè)厚儀 （庫侖測(cè)量系統(tǒng)）使用庫侖方法測(cè)量鍍層厚度。配備了一個(gè)大的，易讀取的液晶顯示器，直觀的菜單指引系統(tǒng)，該儀器理想的適用于測(cè)量幾乎所有的金屬基材或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度，包括多鍍層。使用在不能進(jìn)行或不需要進(jìn)行非破壞性測(cè)試方法的場(chǎng)合。
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德國進(jìn)口電解測(cè)厚儀Couloscope CMS2 Fischer菲希爾Couloscope CMS2測(cè)厚儀 （庫侖測(cè)量系統(tǒng)）使用庫侖方法測(cè)量鍍層厚度。配備了一個(gè)大的，易讀取的液晶顯示器，直觀的菜單指引系統(tǒng)，該儀器理想的適用于測(cè)量幾乎所有的金屬基材或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度，包括多鍍層。使用在不能進(jìn)行或不需要進(jìn)行非破壞性測(cè)試方法的場(chǎng)合。
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菲希爾測(cè)厚儀