SMP350電導(dǎo)率儀測(cè)量探頭FS40HF
篤摯儀器(上海)有限公司主營(yíng)粗糙度儀,表面輪廓儀,圓度儀,圓柱度儀,淬火硬化層深無(wú)損測(cè)量?jī)x,邊緣硬化深度Rht檢測(cè)儀,零部件清潔度檢測(cè)系統(tǒng),關(guān)節(jié)臂,三坐標(biāo)探頭測(cè)針,工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡,平面度測(cè)量?jī)x,光譜儀,測(cè)高儀,測(cè)長(zhǎng)儀,齒輪嚙合儀,齒輪測(cè)量中心,超聲波探傷等,公,如果您對(duì)我們的產(chǎn)品服務(wù)有興趣,請(qǐng)?jiān)诰€留言或電詢。熱誠(chéng)歡迎各界朋友前來(lái)參觀、考察、洽談業(yè)務(wù)。
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SIGMASCOPE SMP350:
SIGMASCOPE SMP350是一款緊湊型手持設(shè)備,用于確定鋁或銅等有色金屬的電導(dǎo)率。 測(cè)得的電導(dǎo)率還可以使您得出有關(guān)熱處理材料的硬度和強(qiáng)度的結(jié)論。 因此可以建立熱損傷和材料疲勞的證據(jù)。 為此,使用了相敏渦流方法,該方法已根據(jù)DIN EN 2004-1和ASTM E 1004批準(zhǔn)用于電導(dǎo)率的測(cè)量。
SIGMASCOPE® SMP350 根據(jù)渦流相位法DIN EN 2004-1 和 ASTM E 1004 測(cè)量電導(dǎo)率。 這種方法允許無(wú)接觸測(cè)量,即使隔著油漆或者厚達(dá)500μm的塑料涂層,這種方法也幾乎不受表面粗糙度的影響。SIGMASCOPE® SMP350 配備了 Windows™ CE 操作系統(tǒng) 和一個(gè)直觀的高分辨率的用手指或手寫筆操作的圖形用戶界面。對(duì)應(yīng)的探頭可以適應(yīng)不同的測(cè)量頻率。具有自動(dòng)溫度補(bǔ)償功能,環(huán)境或標(biāo)樣溫度可以直接從集成溫度傳感器(或可選的外置溫度傳感器)獲得。
特征:
根據(jù)DIN EN 2004-1和ASTM E 1004快速,無(wú)損和準(zhǔn)確地測(cè)量有色金屬的電導(dǎo)率
電導(dǎo)率探頭,適用于各種應(yīng)用
對(duì)于不同的穿透深度,從15 kHz到1 MHz,各種測(cè)量頻率取決于探頭
針對(duì)已知曲率直徑(小小直徑為6 mm)的自動(dòng)曲率補(bǔ)償
我們提供認(rèn)證的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)(以MS / m,%IACS為單位),可追溯到*的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)
應(yīng)用范圍:
對(duì)原材料進(jìn)行電導(dǎo)率測(cè)試以進(jìn)行分類和質(zhì)量保證
檢查造幣中的合金化(例如,歐元硬幣的電導(dǎo)率)
評(píng)估熱處理材料的硬度和強(qiáng)度
控制機(jī)身或類似組件的材料穩(wěn)定性,該穩(wěn)定性可因溫度波動(dòng)而改變
估算銅合金或含銅材料中的磷含量
跟蹤降水過(guò)程,例如在銅鉻合金中
檢驗(yàn)合金的均質(zhì)性
廢料分類
Probe FS40HF探頭:
Probe FS40HF探頭根據(jù)DIN EN 2004-1和ASTM E 1004來(lái)測(cè)量非磁性金屬的電導(dǎo)率。由于集成了溫度傳感器,所有探頭都適合進(jìn)行溫度校正的測(cè)量,并自動(dòng)顯示標(biāo)準(zhǔn)化為20°的電導(dǎo)率值 C(68°F)。 所有探頭均在高頻下工作,因此只能在低材料深度下進(jìn)行測(cè)量。 使用的測(cè)量方法可以進(jìn)行無(wú)接觸測(cè)量,也可以在非導(dǎo)電面漆(如漆面或塑料蓋)下進(jìn)行測(cè)量。
• 近地表測(cè)量
• 薄板的測(cè)量
• 關(guān)于薄涂層的磨損程度的判定
• 熱噴涂層評(píng)估
Probe FS40HF 技術(shù)參數(shù) |
探頭設(shè)計(jì): | Axial single tip probes with fixed measuring system |
應(yīng)用: | 非磁性金屬的電導(dǎo)率 |
測(cè)量范圍: | 5 ...108 %IACS |
探頭頻率: | 1000 kHz and 2000 kHz |
誤差: | 1... 100 %IACS: ≤ 1 % of 標(biāo)稱值 |
重復(fù)精度: | 1000 kHz: ≤ 0.35 %IACS of 讀值 2000 kHz: ≤ 1 %IACS of 讀值 |
Influences: | 取決于材料和探頭使用頻率 |