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菲希爾代理Couloscope CMS2 庫侖法測(cè)厚儀

作為測(cè)量鍍層厚度簡(jiǎn)單的方法之一，庫侖法可以用于 各種鍍層組合。 尤其對(duì)于多鍍層結(jié)構(gòu)， 當(dāng)允許破壞性測(cè) 量時(shí)，它提供了一個(gè)比 X 射線更經(jīng)濟(jì)的替代方法。
很多常見的單、雙鍍層例如鐵鍍鋅或者銅鍍鎳鍍錫都可 以用 CMS2 簡(jiǎn)單快速地測(cè)量。這個(gè)方法為任何金屬鍍層 提供了的測(cè)量。在厚度范圍 0.05 - 50 μm 內(nèi)， 很多 材料不需要預(yù)設(shè)定；基材組成和幾何形狀對(duì)于測(cè)量都 是無關(guān)緊要的。

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標(biāo)準(zhǔn)：DIN EN ISO 2177 ；
大屏幕點(diǎn)陣液晶顯示屏，可顯示文字與圖形：
可設(shè)置和儲(chǔ)存：50個(gè)應(yīng)用程式、600個(gè)數(shù)據(jù)組；3 000個(gè)數(shù)據(jù)
統(tǒng)計(jì)：平均值、zui大值、zui小值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、測(cè)量次數(shù)、Cp、Cpk 和直方圖
使用多層菜單和軟鍵，使操作更方便
接口可通過電纜和傳輸軟件將數(shù)據(jù)傳到
模擬輸出： 0 ～
輸入阻抗： ＞ 2 KΩ
工作溫度： 10 ℃ ～ 40 ℃
儀器重量：
電源： AC 220 V ，50-60 Hz；zui大功耗 ≤
尺寸：
庫侖鍍層厚度測(cè)試儀
分步測(cè)量： 鍍層厚度和電位差
測(cè)量：
Cd、Cr、Pd、Ni、Sn、Zn、Pb、Pb60Sn40、Brass 等金屬
基材可為 Cu and Cu-Alloy、Al and Al-Alloy、Zn and Zn-Alloy、Ni、Fe、非金屬材料等
雙層鎳鍍層庫倫測(cè)厚儀基本配置：
儀器：
測(cè)量臺(tái)： V24、V26、V18 等
電解液： F1 ～
篤摯儀器（上海）有限公司將繼續(xù)以良好的信譽(yù)為基礎(chǔ)，秉承穩(wěn)固與發(fā)展、求實(shí)與創(chuàng)新的精神，為客戶提供更全面、更優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。我們會(huì)腳踏實(shí)地、勇于拼搏、敢于創(chuàng)新，把我們的服務(wù)、經(jīng)驗(yàn)和技術(shù)更優(yōu)質(zhì)的提供給每一位客戶。我們堅(jiān)持技術(shù)和服務(wù)并重的思想，遵守規(guī)范、客觀、公正、實(shí)事求是的原則，信守協(xié)議，重質(zhì)量、求效率。堅(jiān)持以*的專業(yè)水準(zhǔn)，*的敬業(yè)精神，*的服務(wù)意識(shí)，勤奮細(xì)致的工作態(tài)度為客戶服務(wù)